MX-5和MX-5D管道壁厚超聲波測(cè)厚儀 性能區(qū)別

CMXDL超聲波測(cè)厚儀是基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量。MVX A/B掃描型超聲波測(cè)厚儀可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行厚度測(cè)量，VX A/B掃描壁厚和腐蝕超聲波測(cè)厚儀監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^程中受腐蝕后的減薄程度，PX-7金屬和塑料超聲波壁厚測(cè)厚儀可以對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量。

PX-7金屬和塑料超聲波壁厚測(cè)厚儀的測(cè)量注意下列事項(xiàng)：

⒈    壁厚超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉    壁厚掃描超聲波測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊    單雙晶探頭測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋    穿透性涂層測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

⒌    壁厚超聲波測(cè)厚儀測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

⒍    玻璃超薄件測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎    MAX壁厚掃描超聲波測(cè)厚儀在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

       ⒏   CMX腐蝕層超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，

             因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

精工儀器DM5E穿越涂層超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。MX-3掃描超聲波測(cè)厚儀使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

      精工儀器PX-7DL超聲波測(cè)厚儀的應(yīng)用

      38DL帶存儲(chǔ)超聲波測(cè)厚儀按超聲波脈沖反射原理設(shè)計(jì)的測(cè)厚儀可對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量，也可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^程中受腐蝕后的減薄程度?？蓮V泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。

      影響精工儀器PVX超聲波測(cè)厚儀帶AB波形掃描示值的因素

      （1）CL5高精密超聲波測(cè)厚儀對(duì)工件表面粗糙度過大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號(hào)。對(duì)于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理，降低粗糙度，PX-7DL高精密超聲波測(cè)厚儀同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，A/B掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX使探頭與被檢物通過耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。

      （2）PX-7高精度超聲波測(cè)厚儀測(cè)量工件曲率半徑太小，尤其是小徑管測(cè)厚時(shí)，因常用探頭表面為平面，與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸，聲強(qiáng)透射率低（耦合不好）?？蛇x用小管徑專用探頭（6mm ),能較精確的測(cè)量管道等曲面材料。

      （3）MX-5DL穿透油漆層超聲波測(cè)厚儀針對(duì)檢測(cè)面與底面不平行，聲波遇到底面產(chǎn)生散射，MX-5鋼管超聲波測(cè)厚儀 探頭無法接受到底波信號(hào)。