DUALSCOPE® FMP40

自動識別基材，將兩種丈量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，契合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360規(guī)范），此通用型設(shè)備不只能夠?qū)︿撹F上的多種涂層進(jìn)行丈量還能夠?qū)Ψ氰F金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進(jìn)行丈量。

特色

依據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對涂層進(jìn)行非破壞性測量LI>

自動識別基材（FMP40）

可存儲高達(dá)20,000個數(shù)據(jù)

可樹立多達(dá)100個應(yīng)用程式

數(shù)據(jù)可存儲 4000個數(shù)據(jù)組

以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地體現(xiàn)丈量成果

能夠輸入進(jìn)程公役 并核算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk

當(dāng)超出公役 時，有聲響和視覺警告信號

供給的電腦軟件FISCHER DataCenter 具有以下功用：傳輸和保留丈量值，全部的核算和圖形化評價，簡潔生成并打印個人檢查陳述

典型應(yīng)用領(lǐng)域

汽車工業(yè)

涂料制作與加工

實(shí)驗(yàn)室

檢查組織

航空工業(yè)

技術(shù)參數(shù)：

涂層測厚儀FMP40-可配探頭：

FD10：兩用探頭 磁感應(yīng)和渦流兩用

測量規(guī)模：磁性：0-1300 μm，渦流，0-800 μm

FGA1.3：磁感應(yīng)探頭 常用于高精度、薄涂鍍層測量

測量規(guī)模：0-1500μm

測量精度：0.25μm（0-50μm）

0.5（50-1000μm）

＜2.5（1000-1500μm）

*小可測直徑：ф2mm（差錯＜10）；ф14mm以上即為測量精度

*小可測面積：ф2mm（差錯＜10）；ф8mm以上即為測量精度

*薄可測基材：0.2mm（差錯＜10）

FGAB1.3：磁感應(yīng)探頭 常規(guī)丈量、高精度、高讀數(shù)穩(wěn)定性

測量規(guī)模：0-2000μm

測量精度：0.5μm（0-100μm）

0.5（100-1000μm）

＜3（1000-2000μm）

*小可測直徑：ф2mm（差錯＜10）；ф18mm以上即為測量精度

*小可測面積：ф2mm（差錯＜10）；ф8mm以上即為測量精度

*薄可測基材：0.2mm（差錯＜10）

FGABI 1.3-150 磁感應(yīng)探頭 長臂探頭，

*小測ф9mm孔壁涂鍍層

測量規(guī)模：0-1000 μm

測量精度：0.5 μm（0-50 μm）

1（50-1000μm）

*小可測直徑：ф2mm（差錯＜10）；ф16mm以上即為測量精度

*小可測面積：ф2mm（差錯＜10）；ф8mm以上即為測量精度

*薄可測基材：0.2mm（差錯＜10）

FTA3.3H 渦流探頭

測量規(guī)模：0-1200 μm

測量精度：0.25 μm（0-50 μm）

0.5（50-800 μm）

＜2（800-1200 μm）

*小可測直徑：ф2mm（差錯＜10）；當(dāng)ф50mm以上即為測量精度

*小可測面積：ф2mm（差錯＜10）；當(dāng)ф4mm以上即為測量精度

*薄可測基材：0.09mm（差錯＜10）

FTA3.3 渦流探頭

測量規(guī)模：0-1200 μm

測量精度：0.5 μm（0-100 μm）

0.5（100-800 μm）

＜3（800-1200 μm）

*小可測直徑：ф2mm（差錯＜10）；當(dāng)ф50mm以上即為測量精度

*小可測面積：ф2mm（差錯＜10）；當(dāng)ф4mm以上即為測量精度

*薄可測基材：0.09mm（差錯＜10）