晶體生長過程溫度測量的紅外測溫儀
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CellaCrystal系列紅外測溫儀應用于晶體生長過程中的光學溫度測量。
紅外測溫儀的高分辨率和高穩(wěn)定性保證晶體生長過程中對溫度的精準控制。
晶體生長過程溫度測量應用示例
單晶硅生長過程溫度監(jiān)控
紅外測溫儀在單晶硅生長過程溫度監(jiān)控多晶硅生長過程溫度監(jiān)控
紅外測溫儀在多晶硅生長過程溫度監(jiān)控碳化硅（SiC）生長過程溫度監(jiān)控
紅外測溫儀在碳化硅（SiC）生長過程溫度監(jiān)控
CellaCrystal 紅外測溫儀特點
高精度的寬測量范圍：750-3000℃
極高的重復性：2K
同時評估雙色和單色通道溫度變化
功耗極低（<175 mA），使用壽命長
可通過控制按鍵調節(jié)參數
檢測鏡頭污染功能
可調焦鏡頭 ：標準鏡頭；近焦鏡頭；長焦鏡頭
三種瞄準方式：目鏡，攝像頭或激光瞄準
多種信號輸出 ：模擬電流；開關信號；RS485 信號
專用軟件可并行控制最多30 臺測溫儀
喜訊：我們可以提供樣機做短期測試!
提供樣機做短期測試
CellaCrystal 紅外測溫儀標配
CellaCrystal高溫計
5米專用導線VK 02/A
5米視頻電纜VK 02/F（攝像頭瞄準型號用）
使用說明書
其他配件必須單獨訂購！
CellaCrystal 紅外測溫儀型號
歡迎進入倍加孚(廈門)科技有限公司官方網站
生產廠家熱線：180-5987-6689
