MVX 超聲波測厚儀 A/B掃描功能

作者：admina來源：時間：2021-09-07 16:25:01瀏覽量：316人閱讀

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超聲波測厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
公式：
H=(v*t) /2
H---試件厚度;
v ---聲速，
t ---超聲波在試件中往返一次的傳播時間。普通測厚模式是測量發(fā)射脈沖和第一底面回波
之間的時間差T1(包含涂層厚度)。穿透涂層模式是測量兩個連續(xù)底面回波之間的時間差T2（不包含涂層厚度)。

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