SN-OS-XX 光纖式單色測(cè)溫儀
SN-OS-XX 光纖式單色測(cè)溫儀在使用過(guò)程中，會(huì)遇到以下幾種原因引起的測(cè)量誤差:
1、材料菜化表面狀態(tài)發(fā)生改變，或者范化物和原材開公而引起較大的測(cè)最?yuàn)什?
2、材料本身發(fā)射率較低而引起的測(cè)量誤差
3、滿量環(huán)境惡劣(粉塵，煙露，水蒸氣等)而引起的測(cè)最誤差
4、測(cè)量孔徑不能充全滿足測(cè)溫儀的視場(chǎng)需求而引起的測(cè)量誤差
產(chǎn)品介紹
SN-OS-XX 光纖式單色測(cè)溫儀可廣泛應(yīng)用于冶金行業(yè)（棒材、熱軋板、鍛造）和鑄造行業(yè)，水泥窯，感應(yīng)加熱，單晶硅和多晶硅等各種工業(yè)場(chǎng)合溫度的測(cè)量。
SN-OS-XX 光纖式單色測(cè)溫儀它具有堅(jiān)固的外形，采用不銹鋼鏡頭（帶吹掃功能），鋁壓鑄外殼，防護(hù)等級(jí)為IP54。它由鏡頭、光纖、處理部件組成。光纖和鏡頭組件可以承受250℃的高溫，不需要另外的冷卻。除了適用于一般工業(yè)場(chǎng)合溫度的測(cè)量,也適用于安裝在電磁干擾較強(qiáng)和環(huán)境溫度較高的場(chǎng)合。軟硬件設(shè)計(jì)，適用于一百萬(wàn)倍信號(hào)的處理，可以滿足用戶對(duì)儀器精度、重復(fù)性、等各方面的要求。
o 光纖式單色測(cè)溫儀測(cè)溫范圍覆蓋300℃～2500℃
o 光纖式單色測(cè)溫儀測(cè)溫精度可達(dá)0.5%,重復(fù)精度為2℃
o 紅外高溫計(jì)響應(yīng)時(shí)間5ms～99.99s可調(diào)
o 光纖式雙色測(cè)溫儀分辨率0.1℃
o 紅外高溫計(jì) 采用可調(diào)焦鏡頭，測(cè)量距離0.35m至無(wú)窮遠(yuǎn)
o 紅外測(cè)溫儀1：1高亮度綠色LED光源或目鏡瞄準(zhǔn)，清晰顯示被測(cè)目標(biāo)的位置及大小。
o SN-OS-XX 光纖式單色測(cè)溫儀 對(duì)探測(cè)器采用PID恒溫控制，消除環(huán)境溫度對(duì)測(cè)量的影響
o SN-OS-XX 光纖式測(cè)溫儀采用工業(yè)級(jí)OLED屏為顯示界面，人機(jī)界面友好
o 紅外測(cè)溫儀多功能的外設(shè)接口：2路獨(dú)立的模擬量輸出、2路報(bào)警輸出、1路電平輸出以及1路RS485通訊接口
o 紅外線高溫計(jì)傳輸信號(hào)可抗2500VDC脈沖群干擾
技術(shù)參數(shù)
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連鑄、熱軋、感應(yīng)加熱、感應(yīng)加熱、熱處理、多晶硅和單晶硅、真空爐、熱風(fēng)爐、燒結(jié)爐火等高溫場(chǎng)合溫度的測(cè)量 |
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測(cè)溫范圍 |
600℃～1600℃ |
700℃～2200℃ |
800℃～2500℃ |
300℃～1400℃ |
350℃～2200℃ |
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工作波長(zhǎng) |
（0.85～1.1）μm |
（1.45～1.7）μm |
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探測(cè)器 |
Si（硅光電池） |
InGaAs（銦鎵砷） |
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主要應(yīng)用 |
連鑄、熱軋、感應(yīng)加熱、多晶硅和單晶硅， |
感應(yīng)加熱、熱處理、多晶硅和單晶硅，高溫場(chǎng)合溫度的測(cè)量 |
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距離系數(shù) |
75:1或150:1 |
150:1或200:1 |
75:1或150:1 |
150:1或200:1 |
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測(cè)量距離 |
固定焦距0.2m以上，可調(diào)焦距0.15m至無(wú)窮遠(yuǎn)可調(diào) |
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測(cè)量精度 |
±0.5%tm℃（tm為測(cè)溫范圍上限值） |
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溫度分辨率 |
0.1℃ |
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重復(fù)精度 |
±2℃ |
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單色系數(shù) |
0.100～1.000，步距0.001可調(diào) |
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響應(yīng)時(shí)間 |
5ms～99.99s可調(diào) |
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信號(hào)處理 |
峰值、谷值、平均值，環(huán)境溫度過(guò)高過(guò)低報(bào)警，掉電保護(hù)等功能 |
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輸出 |
多種模擬量輸出16bit （4mA～20mA，0mA～20mA，0V～5V，0V～10V可選）， |
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模擬量12bit輸出4mA～20mA，分辨率1℃，最大負(fù)載600Ω |
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報(bào)警輸出：上限、下限報(bào)警，采用光耦繼電器使用壽命無(wú)限制， |
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PNP電平輸出（輸出電流100mA，帶過(guò)載保護(hù)） |
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RS485輸出，可實(shí)現(xiàn)參數(shù)修改，數(shù)據(jù)記錄和查詢等功能 |
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顯示方式 |
采用自發(fā)光工業(yè)級(jí)OLED顯示屏 |
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供電電源 |
DC（20～30）V，功耗：5W（24V@200mA），帶過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)， |
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預(yù)熱時(shí)間 |
內(nèi)置恒溫加熱器，通電10min后測(cè)溫 |
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瞄準(zhǔn)方式 |
內(nèi)置可見紅色激光瞄準(zhǔn) |
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使用環(huán)境 |
測(cè)溫儀：不帶水冷（-30℃～+55℃），帶水冷（-30℃～+120℃）， |
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防護(hù)等級(jí) |
IP54 |
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DIT1-X紅外比色測(cè)溫儀:采用雙色測(cè)溫方法，即通過(guò)目標(biāo)物體輻刺的兩個(gè)紅外波段的能量比值來(lái)確定被測(cè)物體的溫度。因測(cè)量結(jié)果取決于兩個(gè)波段輻刺功率之比，所以，輻射能最的部分損失對(duì)測(cè)是結(jié)果沒有影響，可克轂傳輸介活有灰塵、煙喜、水汽，視場(chǎng)局部速擋和測(cè)是距商查化造成的幕射能量意減而引起的測(cè)是誤差，特別活用于相對(duì)惡劣的測(cè)溫環(huán)境
紅外比色測(cè)溫儀金屬熱加工付程中，金屬表面不可避免會(huì)快速第化形成氧化層，化層會(huì)融溫度查化脫落或者被型(例乳鋼生產(chǎn)線)，被型氧化皮和金屬本體形成回睡，使得氧化是的溫度低于金屬本體溫度。雙色測(cè)溫儀可以很好的克服因此引起的測(cè)是誤差，使得生產(chǎn)工藝數(shù)據(jù)可靠且商散性小，便于工藝分析。
比色測(cè)溫對(duì)于真空或保護(hù)氣體加熱系統(tǒng)也具有優(yōu)勢(shì)，可以克服坡璃窗口材料引起的測(cè)基誤差，讓測(cè)都信更接近真值
DIT2-X比色測(cè)溫儀具有目視瞄準(zhǔn)系統(tǒng)，非常方便用戶安裝及實(shí)時(shí)查看測(cè)溫儀是否對(duì)準(zhǔn)目標(biāo)，對(duì)于密封環(huán)境的測(cè)量系統(tǒng)，目視瞄準(zhǔn)還可以作為爐內(nèi)工況的觀察窗口.
DIT2-X紅外比色測(cè)溫儀真有豐富的功能，實(shí)時(shí)高亮溫度測(cè)最值顯示，用戶可選測(cè)最方式，測(cè)量模式，測(cè)溫速度，輸出規(guī)格設(shè)置，充全滿足客戶各種現(xiàn)場(chǎng)使用需求。人機(jī)交互簡(jiǎn)單，方便，
關(guān)鍵詞：軋線棒材鋼坯雙色測(cè)溫儀 金屬注射成型燒結(jié)爐紅外測(cè)溫儀 真空氫氣爐紅外測(cè)溫儀 真空熱壓爐紅外測(cè)溫儀 核管退火爐紅外測(cè)溫儀 晶體材料紅外測(cè)溫儀 晶體材料紅外線測(cè)溫儀 氮化硅氣壓爐紅外測(cè)溫儀 氮化硅氣壓爐紅外測(cè)溫儀 碳化鎢氣壓爐紅外測(cè)溫儀 CVD 化學(xué)氣相沉積爐 石墨純化紅外測(cè)溫儀 旋轉(zhuǎn)粉末燒結(jié)爐紅外測(cè)溫儀 真空感應(yīng)熔鑄爐紅外測(cè)溫儀 熱風(fēng)爐拱頂紅外雙色測(cè)溫裝置
