晶體生長過程溫度測量的紅外測溫儀
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CellaCrystal系列紅外測溫儀應(yīng)用于晶體生長過程中的光學(xué)溫度測量。

紅外測溫儀的高分辨率和高穩(wěn)定性保證晶體生長過程中對溫度的精準(zhǔn)控制。

晶體生長過程溫度測量應(yīng)用示例
單晶硅生長過程溫度監(jiān)控
紅外測溫儀在單晶硅生長過程溫度監(jiān)控多晶硅生長過程溫度監(jiān)控
紅外測溫儀在多晶硅生長過程溫度監(jiān)控碳化硅（SiC）生長過程溫度監(jiān)控
紅外測溫儀在碳化硅（SiC）生長過程溫度監(jiān)控
 

CellaCrystal 紅外測溫儀特點(diǎn)
高精度的寬測量范圍：750-3000℃
極高的重復(fù)性：2K
同時(shí)評估雙色和單色通道溫度變化
功耗極低（<175 mA），使用壽命長
可通過控制按鍵調(diào)節(jié)參數(shù)
檢測鏡頭污染功能
可調(diào)焦鏡頭 ：標(biāo)準(zhǔn)鏡頭；近焦鏡頭；長焦鏡頭
三種瞄準(zhǔn)方式：目鏡，攝像頭或激光瞄準(zhǔn)
多種信號輸出 ：模擬電流；開關(guān)信號；RS485 信號
專用軟件可并行控制最多30 臺測溫儀
喜訊：我們可以提供樣機(jī)做短期測試!
提供樣機(jī)做短期測試
CellaCrystal 紅外測溫儀標(biāo)配
CellaCrystal高溫計(jì)
5米專用導(dǎo)線VK 02/A
5米視頻電纜VK 02/F（攝像頭瞄準(zhǔn)型號用）
使用說明書
其他配件必須單獨(dú)訂購！

CellaCrystal 紅外測溫儀型號