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AST-E44-0080-HTY測溫探頭 E1RL-F2-L-1-0高溫計

作者:admina來源:時間:2025-04-29 16:32:07瀏覽量:194人閱讀

  

E1RL-F2-L-1-0紅外測溫儀E1RL-F2-L-0-0高溫計

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CIT-1MD1SS紅外測溫儀 CIT-2MK2紅外測溫儀 M2 600/1800CV雙色高溫計

-3000℃超高溫黑體爐 腔式黑體爐黑體輻射源面源黑體爐浴式黑體輻射源熱電偶退火爐

3000°C超高溫黑體爐 M390黑體輻射源 M330中溫黑體爐 高溫黑體爐 紅外傳感器

DCT1-3514-F2 紅外測溫儀   SCT3-0010高溫計

DCT1-3514-F2 紅外測溫儀

SCT3-0010 紅外測溫儀

DCT1-3514雙色紅外測溫儀的工作原理

DCT1-7014雙波長紅外測溫儀的工作原理

DcT1-3514紅外線測溫儀 350一1400℃

石墨坩堝晶體硅溫度專用紅外線測溫儀

多晶硅鑄錠爐紅外測溫儀 生產(chǎn)廠家

RF-4A14石墨坩堝光纖式紅外線測溫儀
DCTQ1-7014多晶硅液面溫度紅外測溫儀
DCTQ2-3514多晶硅液面溫度測量儀


1、概述

多晶硅是單質(zhì)硅的一種形態(tài),其純度要比單晶硅低,它可作拉制單晶硅的原料。多晶硅由多晶硅鑄錠爐生產(chǎn)出來。
多晶硅的生產(chǎn)是把高純多晶硅料裝入到鑄錠爐中,抽真空后,將硅料熔化成液態(tài),通過鑄錠爐的自動化的操作,使硅料形成一個豎直溫度梯度。液態(tài)硅自下向上緩慢地重新結(jié)晶,生成一塊大晶粒的多單晶體的鑄錠硅來。硅錠經(jīng)過退火、冷卻后出爐完成整個鑄錠過程。

目前國際上多晶硅生產(chǎn)主要的傳統(tǒng)工藝有:改良西門子法、硅烷法和流化床法。其中改良西門子工藝生產(chǎn)的多晶硅的產(chǎn)能約占世界總產(chǎn)能的80%。生產(chǎn)工藝以改良西門子法為例:

(1)裝料
將裝有涂層的陶瓷坩堝放置在熱交換臺(冷卻板)上,放入適量的硅原料,然后安裝加熱設備、隔熱設備和爐罩,將爐內(nèi)抽真空,使爐內(nèi)壓力降至(0.05-0.1)mbar并保持真空。通入氬氣作為保護氣,使爐內(nèi)壓力基本維持在(400~600)mbar左右。
(2)加熱
利用石墨加熱器給爐體加熱,首先使石墨部件(包括加熱器、坩堝板、熱交換臺等)、隔熱層、硅原料等表面吸附的濕氣蒸發(fā),然后緩慢加溫,使陶瓷坩堝的溫度達到1200℃~1300℃左右,該過程約需要4h~5h。
(3)化料
通入氬氣作為保護氣,使爐內(nèi)壓力基本維持在(400~600)mbar左右。逐漸增加加熱功率,使陶瓷坩堝內(nèi)的溫度達到1500℃左右,硅原料開始熔化。熔化過程中一直保持1500℃左右,直至化料結(jié)束。該過程約需要9~11h。
(4)晶體生長
硅原料熔化結(jié)束后,降低加熱功率,使陶瓷坩堝的溫度降至1420℃~1440℃硅熔點左右。陶瓷坩堝逐漸向下移動,或者隔熱裝置逐漸上升,使得坩堝慢慢脫離加熱區(qū),與周圍形成熱交換;同時,冷卻板通水,使熔體的溫度自底部開始降低,晶體硅首先在底部形成,并呈柱狀向上生長,生長過程中固液界面始終保持與水面平行,直至晶體生長完成,該過程約需要20h~22h。
(5)退火
晶體生長完成后,由于晶體底部和上部存在較大的溫度梯度,因此,晶錠中可能存在熱應力,在硅片加工和電池制備過程中容易造成硅片碎裂。所以,晶體生長完成后,晶錠保持在熔點附近2h~4h,使晶錠溫度均勻,以減少熱應力。
(6)冷卻
晶錠在爐內(nèi)退火后,關閉加熱功率,提升隔熱裝置或者完全下降晶錠,爐內(nèi)通入大流量氬氣。使晶體溫度逐漸降低至室溫附近;同時,爐內(nèi)氣壓逐漸上升,直至達到大氣壓,最后去除晶錠,該過程約需要10h。
對于重量為250~300kg的鑄造多晶硅而言,一般晶體生長的速度約為(0.1~0.2)mm/min,其晶體生長的時間約35~45h。
2、多晶硅紅外溫度測量
硅材料是比較難測的物體,硅輻射的溫度與發(fā)射率的對應關系如上圖。硅的發(fā)射率在某個特定區(qū)域內(nèi)是不變的。需要紅外測溫儀采用特殊的窄帶濾色片來減小發(fā)射率變化的影響。
(1)多晶硅液面溫度測量
采用短波長雙色測溫儀來測量多晶硅液面的溫度。推薦產(chǎn)品:DCTQ1-7XXX(鏈接DCTQ系列雙色紅外測溫儀),溫度分辨率為0.1℃,溫度場內(nèi)的微小變化都能快速響應,并具有極高的溫度穩(wěn)定性。
采用比色測溫的方法,可以避免硅料直徑變化的影響。視窗的污染,也不會影響測溫的準確性。并有臟鏡頭檢測功能,鏡頭太臟時會提前發(fā)出信號,保證系統(tǒng)可靠工作。
石墨坩堝光纖式紅外測溫儀產(chǎn)品特點如下:
測溫精度可達0.5%,重復精度為2℃,溫度分辨率達0.1℃(16bit)
響應時間10ms~99.99s可調(diào)
采用可調(diào)焦鏡頭,測量距離0.35m至無窮遠
對探測器采用PID恒溫控制,消除環(huán)境溫度對測量的影響
可視目鏡,清晰顯示被測目標的位置及大小
兼具雙色和單色測溫功能
雙色模式下,有鏡頭臟檢測功能
采用工業(yè)級OLED屏為顯示界面,人機界面友好
軟硬件等抗干擾設計提高系統(tǒng)穩(wěn)定性,可抗2500VDC脈沖群干擾
使用場合有防爆要求時,在測量液面的區(qū)域,推薦使用光纖式雙色紅外測溫儀。推薦產(chǎn)品:SN-7018(鏈接SN系列光纖式雙色測溫儀)。采用可調(diào)焦鏡頭和紅色激光光源瞄準,溫度分辨率為0.1℃,具有極高的溫度穩(wěn)定性。采用比色測溫的方法,可以避免硅料直徑變化的影響。視窗的污染,也不會影響測溫的準確性。并有臟鏡頭檢測功能,鏡頭太臟時會提前發(fā)出信號,保證系統(tǒng)可靠工作。
(2)石墨坩堝溫度的檢測
采用短波長單色測溫儀來測量石墨坩堝的溫度。推薦產(chǎn)品:DCTQ1-XX(鏈接DCTQ系列單色紅外測溫儀)或者經(jīng)濟款產(chǎn)品DCTQ(鏈接SN系列單色紅外測溫儀)。
兩款產(chǎn)品采用1:1綠色光源對準目標,并采用可調(diào)焦鏡頭(不受安裝距離遠近的限制),溫度分辨率為0.1℃,具有極高的溫度穩(wěn)定性。

在使用場合有防爆要求時,在石墨坩堝的區(qū)域推薦使用光纖式單色紅外測溫儀。推薦產(chǎn)品:DCTQ1-XX光纖式單色測溫儀)。采用可調(diào)焦鏡頭和紅色激光光源瞄準,溫度分辨率為0.1℃,具有極高的溫度穩(wěn)定性。




RF-4A19雙色紅外測溫儀測量溫度取決于目標兩個紅外光譜波長上能量的比值。雙色模式特別適用于測量局部被遮擋的目標,無論是斷續(xù)的,還是一直如此。如存在其他物體的遮擋、開孔、狹縫、觀察窗對能量的衰減,以及大氣中灰塵、煙霧、水氣的影響。雙色模式也可用于測量無法充滿測量市場的目標溫度,但背景溫度必須比目標溫度低很多。

RF-4A17雙色測溫儀均由以下部分組成:光學透鏡、紅外濾光片、雙色探測器、放大及處理電子電路以及符合nema-4(iec 529,ip65)標準的外殼。確保在嚴格的工業(yè)環(huán)境下可靠運行。輸出標準電流信號,用以連接計算機、控制器、記錄儀、報警器以及a/d接口。

注意:在大多數(shù)情況下,即使目標能量衰減達95%時,RF-4A18雙色測溫儀也可以保證進行有效測量。其要求的百分比僅在測量溫度段的底端有所提高。


M390黑體爐是一款高溫輻射源,溫度范圍覆蓋600°C至3000°C。它采用25?mm石墨腔體,提供近乎理想的發(fā)射率(0.65–1.8?μm波段有效發(fā)射率約為1.0),并通過快速響應紅外溫度傳感器和PID控制系統(tǒng),實現(xiàn)高精度(±0.25%或±1°C)溫度控制,5分鐘內(nèi)即可從室溫升至2300°C。同時,設備支持RS232/RS485遠程控制,且所有校準均可追溯至NIST標準。
工業(yè)領域的應用
紅外測溫校準
M390作為標準輻射源,可對紅外測溫儀、熱像儀等設備進行校準,確保高溫下測量準確。
鋼鐵與冶金
在高爐、軋制等高溫工藝中,通過校準現(xiàn)場測溫儀器,保證溫度監(jiān)控的精確性,提升生產(chǎn)效率與產(chǎn)品質(zhì)量。
航空航天與精密制造
用于模擬極端高溫環(huán)境,標定傳感器和測試材料性能,確保設備在嚴苛條件下的可靠運行。
科研領域的應用
實驗室和計量研究
作為高溫輻射基準源,M390在國家標準實驗室和高校中用于溫度基準傳遞和高溫測量研究。
光學與紅外傳感器研究
為光譜測量和紅外傳感器校準提供穩(wěn)定、精確的高溫環(huán)境,支持新技術研發(fā)和性能優(yōu)化。

M330-US M330-EU 黑體爐 黑體輻射源 紅外傳感器

M330黑體爐適用于300°C-1700°C高溫校準,具有超高發(fā)射率、高精確度、長時間穩(wěn)定性及PID溫控等特點,廣泛用于紅外傳感器等校準,PLUSFO圣加弗公司科研和工業(yè)的理想工具。


如果您在尋找一款高效穩(wěn)定且精確度極高的黑體輻射源,那么M330-US / M330-EU 黑體爐將是您的理想之選。其溫度范圍從 300°C 到 1700°C(572°F 到 3092°F),適用于各種高溫校準需求。
主要特點:
- 超高發(fā)射率:1.0 在 0.65-1.8μm 波段,確保精確的輻射校準。
- 高精確度:±0.25% ± 1°C,滿足嚴苛的精度要求。
- 長時間穩(wěn)定性:每 8 小時溫度波動小于 ±1°C,適合長時間穩(wěn)定操作。
- PID 數(shù)字溫控:采用行業(yè)領先的自調(diào)諧 PID 控制,確保溫度始終保持在 ±0.5°C 以內(nèi)。
- 寬溫度范圍:300°C 到 1700°C 可調(diào)節(jié),適用于各種復雜校準場景。
- 安全防護:配有獨立的超溫斷電系統(tǒng)和內(nèi)部風扇,保證設備運行的安全性和可靠性。
應用場景:
M330 黑體爐廣泛用于紅外溫度傳感器、紅外熱像儀、光譜儀、太陽輻射模擬、光學高溫計等高溫校準應用。其極高的溫度精確性和穩(wěn)定性,讓它成為科研實驗室和工業(yè)領域中不可或缺的工具。
技術參數(shù):
- 溫度范圍:300°C - 1700°C
- 溫度精度:±0.25% ± 1°C
- 溫度穩(wěn)定度:每 8 小時 ±0.5°C
- 腔體規(guī)格:25 mm 直徑封閉式管腔
- 冷卻方式:風扇冷卻,保持外部安全溫度
提升工作效率的理想選擇

M330-US M330-EU 黑體爐憑借其優(yōu)秀的性能和安全設計,是進行高溫校準領域的優(yōu)秀工具。無論您是實驗室研究人員還是工業(yè)工程師,M330 都能為您提供無與倫比的精度與穩(wěn)定性,助力您提升工作效率并確保測量結(jié)果的可靠性。

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低溫黑體爐
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M345X黑體爐
M345X-LC黑體爐
中溫黑體爐
M310-HT黑體爐
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高溫黑體爐
M300黑體爐
M305黑體爐
M330EU/US黑體爐
M335黑體爐
M360/M360A黑體爐
超高溫黑體爐 傳遞源測溫儀
M390黑體爐
Impac IS12/IGA12
紅外標準傳遞儀



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